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测厚仪系列 / Thickness gauge series

X射线单扫描架测厚系统

主要参数

近十几年来,用小型X射线发生器产生的低能X射线代替天然放射性β源(氪-85,锶-90)建立了测厚系统已经成为一种发展趋势。X射线装置有诸多优点:X射线管工作时产生射线粒子,停止时放射性射线消失;射线能量较低适当防护即可达到表面剂量小于1μSv/h,达到国家豁免要求;另外使用方便,保存安全,简化使用许可证办理手续,降低放射源维护费用,减少使用者受射线照射危害。

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产品介绍

一、简介
近十几年来,用小型X射线发生器产生的低能X射线代替天然放射性β源(氪-85,锶-90)建立了测厚系统已经成为一种发展趋势。X射线装置有诸多优点:X射线管工作时产生射线粒子,停止时放射性射线消失;射线能量较低适当防护即可达到表面剂量小于1μSv/h,达到国家豁免要求;另外使用方便,保存安全,简化使用许可证办理手续,降低放射源维护费用,减少使用者受射线照射危害。
X射线测厚系统在厚度测量的重复性、稳定性的指标也不亚于β源测厚仪。因此该类测厚仪系统在锂电池制造行业广泛被使用,预计将来在造纸、薄膜纺织等工业也被广泛使用。

二、测量原理
单位面积上极片的质量,称为极片的面密度。极片的面密度是决定电池的一致性的最重要的因素。通过X射线管产生的X射线,穿透电池极片时,一部分射线被极片吸收。导致穿透极片后的射线强度相对于入射射线强度有一定的衰减。衰减比例与被穿透极片的面密度呈负指数关系。通过填充有特殊气体电离室检测射线穿透极片前后的射线强度,即可推算出极片的面密度。如下图所示,I0为透射前的射线强度,I为透射后的射线强度,二者满足I=I0exp(-um)的关系。其中u为单位面密度极片的射线吸收系数,m为面密度。

三、主要技术指标
(1)重复性:重复测量同一极片(4S内)
   重复性好于 0.09%~0.13%(3σ)(取决于极片厚度)
(2)稳定性:12小时测量均值(60S均值)≤0.1%
(3)测量范围:10-200mg/cm2
(4)扫描架扫描宽度,300mm-2000mm
   扫描速度 Max 15 m/min
(5)数据处理
A) 当前数据处理
 原始数据图形:给出原始数据示波图
 横向分布图 当前横向刀口分布图
 纵向分布图 纵向材料面密度趋势图
 单点示波图 处理后单点示波图等
B) 历史数据查询
C) 报警与反馈功能
 超限报警、安全报警、反馈信号控制,上流工艺流程